納米粒度(du)分(fen)(fen)析儀應用于磨料(liao)、化(hua)(hua)學機械拋光液(ye)、陶(tao)瓷、粘土(tu)、涂料(liao)、污染監測、化(hua)(hua)妝品、乳(ru)劑(ji)、食品、液(ye)體工作介質(zhi)(zhi)/油、墨水、 乳(ru)液(ye)、色漆(qi)、制藥粉(fen)體、顏(yan)料(liao)、聚合物、蛋白質(zhi)(zhi)大分(fen)(fen)、二氧化(hua)(hua)硅以及自組裝TiO2納米管(TNAs)等(deng)。
高(gao)速、準確的檢(jian)測能(neng)力。
高(gao)(gao)性能(neng)自適應(ying)光子(zi)相關器,提高(gao)(gao)檢(jian)測的實時性、準確性和重復性。
自(zi)適應光(guang)源強度(du)調節(jie),保證測量裝置(zhi)檢測性(xing)能的穩(wen)定性(xing)和重復性(xing)。
高靈敏度(du)和穩定度(du)的光子計數級光電(dian)信號檢測能力。
可靠的光(guang)纖耦合裝置,高效地增加DLS和ELS信號的信噪比,提(ti)高測(ce)量穩定性。
準確智能(neng)的頻譜(pu)分(fen)析算(suan)法,提高ELS的測量(liang)精(jing)度。
高(gao)穩(wen)定性(xing)的(de)光路與電路設計:消除雜散光和噪聲(sheng)信號的(de)影響,結果穩(wen)定性(xing)和重復性(xing)高(gao)。
| 粒徑測量范圍 | 0.7-10um(動態光散射法) |
| Zeta電位測試范圍 | -500~﹢500mV |
| 準確性與重復性 | 優于2%(國家標準樣品 D50 值) |
| 檢測角度 | 90°、18° |
| 樣品池 | 塑料樣品池、Zeta電位樣品池 |
| 溫控范圍 | 10℃-50℃,精度±0.1℃,半導體制冷 |
| 激光光源 | 可調半導體激光器,波長635nm、35mW |
| 檢測器 | 光子計數級的光電倍增管(PMT) |
| 數字相關器 | 集成的光子相關器,雙通道。1000 通道,最小采樣時間 100ns |
| 納米粒度儀軟件 | 納米粒度儀分析軟件是用于測試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件,采用動態光散射技術及電泳光散射技術,可以實時、準確地檢測膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布,以及Zeta電位等參數 |
| 計算機接口 | USB3.0及以上 |