簡介

納(na)米粒度檢(jian)測儀(yi)是通過動(dong)態光散射(she)技術，表征(zheng)顆粒大(da)小和分布的一種儀(yi)器。萊恩德智能科技自主研發的國產納(na)米粒度檢(jian)測儀(yi)是一款(kuan)基于傷處(chu)原理研發的納(na)米顆粒粒度表征(zheng)分析儀(yi)。

分(fen)散在液體中的(de)(de)(de)(de)顆(ke)(ke)粒(li)由于(yu)(yu)受(shou)到液體分(fen)子(zi)的(de)(de)(de)(de)熱運(yun)(yun)動(dong)(dong)(dong)(dong)撞(zhuang)擊而進行(xing)不規則的(de)(de)(de)(de)布(bu)(bu)朗(lang)運(yun)(yun)動(dong)(dong)(dong)(dong)。在相(xiang)同環(huan)境(jing)下(xia)，顆(ke)(ke)粒(li)尺(chi)寸越(yue)小，布(bu)(bu)朗(lang)運(yun)(yun)動(dong)(dong)(dong)(dong)越(yue)劇烈(lie)，對(dui)應(ying)顆(ke)(ke)粒(li)的(de)(de)(de)(de)擴散行(xing)為越(yue)明顯(xian)。當(dang)一束(shu)激光(guang)照(zhao)射到這些顆(ke)(ke)粒(li)時，其(qi)散射光(guang)的(de)(de)(de)(de)強度會由于(yu)(yu)顆(ke)(ke)粒(li)的(de)(de)(de)(de)布(bu)(bu)朗(lang)運(yun)(yun)動(dong)(dong)(dong)(dong)而隨機變化，且變化的(de)(de)(de)(de)快(kuai)慢與顆(ke)(ke)粒(li)布(bu)(bu)朗(lang)運(yun)(yun)動(dong)(dong)(dong)(dong)的(de)(de)(de)(de)快(kuai)慢有關。通過特定(ding)的(de)(de)(de)(de)光(guang)子(zi)相(xiang)關器可直接測量(liang)散射光(guang)強的(de)(de)(de)(de)變化快(kuai)慢，進而可知顆(ke)(ke)粒(li)布(bu)(bu)朗(lang)運(yun)(yun)動(dong)(dong)(dong)(dong)的(de)(de)(de)(de)擴散系數(shu)，再利用(yong)Stokes-Einstein公式即可計算得到顆(ke)(ke)粒(li)的(de)(de)(de)(de)粒(li)徑及其(qi)粒(li)度分(fen)布(bu)(bu)。

應用領域

納(na)(na)米粒度檢測儀(yi)應用(yong)于磨(mo)料、化學機械拋光液(ye)、陶(tao)瓷、粘土、涂料、污染監測、化妝品、乳(ru)劑(ji)、食品、液(ye)體工作(zuo)介質/油、墨水、  乳(ru)液(ye)、色漆、制藥粉體、顏料、聚合物、蛋白(bai)質大分(fen)、二氧化硅以(yi)及自組裝TiO2納(na)(na)米管(TNAs)等。

• 采(cai)用光(guang)子計數(shu)級的(de)高精度光(guang)電倍增(zeng)管。暗計數(shu)低、光(guang)纖耦合，高速，高穩(wen)定性(xing)。

• 采用集成(cheng)(cheng)的光子(zi)相關器。基于(yu)FPGA的光子(zi)相關器，集成(cheng)(cheng)雙通道光子(zi)計數(shu)器，確保(bao)光子(zi)無遺漏；1000個物理通道，提(ti)供充足的測量(liang)數(shu)據；小100ns采樣時間，確保(bao)z低1nm顆粒的測量(liang)；芯片內模塊集成(cheng)(cheng)設計，保(bao)證(zheng)高(gao)速、穩定的數(shu)據處理流程。

• 準確(que)的溫(wen)控系(xi)統(tong)(tong)。基于(yu)PWM的高精度溫(wen)控系(xi)統(tong)(tong)，精度達到0.5°C，確(que)保測量準確(que)。